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IC测试设备资料.docx
IMS100用户定制型接口板--CECC设计制作SOC器件测试系统安捷伦93000SOC测试系统TeradyneJ971TeradyneJ973LCD器件测试系...
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扫描时观察检测
SIS SS CECC 00013-1985 基本规范.半导体芯片的扫描电子显微镜观察常见问题查看更多没有具体的试验项目以及试验方案,可以给推荐相应的方案项目吗?
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级差配合测试仪介绍
表面阻抗测试仪是依据EOS/ESD,CECC、ASTM和UL测试规程设计的,用于测量所有导电型、抗静电型及静电泄放型表面的阻抗或电阻。使用容易,高品质,高可靠度,该仪表还可测量影响电性能的相对湿度...
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二极管阵列 紫外标准
SIS SS CECC 20002-1984 空白详细规范.红外发光二极管、红外发光二极管阵列 SIS SS CECC 20005-1988 空白详细规范.光电二极管...
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钽的热容标准
SIS SS-CECC 30800-1991 分规范.钽贴片电容 SIS SS-CECC 30801-1991 空白详细规范.钽贴片电容器 SIS SS IEC 361:19...
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紫外光电二极管标准
NF C86-505:1986 半导体器件.电子元器件质量评估协调体系.光电二极管、光电二极管排列.空白详细规范 CECC 20 005 NF EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管 (OLED) ...
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二极管阵列紫外标准
SIS SS CECC 20002-1984 空白详细规范.红外发光二极管、红外发光二极管阵列 SIS SS CECC 20005-1988 空白详细规范.光电二极管...
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LED工艺流程图及LED 封装技术
超高亮度 LED 产品可采用 PLCC(塑封带引 线片式载体)-2 封装,外形尺寸为 3.0×2.8mm,通过独特方法装配高亮度管芯,产品热阻为 400K/W,可按 CECC 方式焊接,其发光强度在 50mA 驱动电流...
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红外行业标准
02 81 03-1991 食品加工行业废水中的脂肪测定.红外分光光度法 SIS SS-IEC 764:1990 使用红外辐射进行的声音传播 SIS SS CECC...
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