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个人如何申请专利
在初步审查中，是审查个人申请专利是否存在明显缺陷，主要包括审查内容是否属于专利法未授予专利权的范围，技术内容的明显缺乏是否不能构成技术方案，是否缺乏单一性，个人申请专利文件是否完整，格式是否符合要求。如果申请人是外国人...
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一种原料硅片的内外部缺陷在线检测设备及检测方法
光电传感器(321)将信号给到拍摄相机(334)，拍摄相机(334)接收到信号后，根据接收到的编码器(322)信号，基于时间延迟积分技术对运动的原料硅片(400)逐行扫描成像，当原料硅片(400)...
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像素缺陷检测和校正设备以及像素缺陷检测和校正方法
专利号:200380107363像素缺陷检测／校正设备，可校正缺陷像素的数目不受记录单元的容量限制，并可以检测／校正延迟缺陷，该设备包括：色差和亮度计算...
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五种无损检测方法优缺点对比
无损检测NDT，就是利用声、光、磁和电等特性，在不损害或不影响被检对象使用性能的前提下，检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性，给出缺陷的大小、位置、性质和数量等信息，进而判定被检对象所处技术状态（如合格与否、剩余寿命等）...
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弱点缺陷检测方法（CN202011294204.2）中国专利【掌桥科研】
观测生成的每个缺陷类型的所有的缺陷位置的扫描区域扫描出的缺陷，确定真实的缺陷类型。著录项公开/公告号 CN112557884A专利类型 发明专利公开/公告日 2021-03-26原文格式 PDF...
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像素缺陷检测和校正设备以及像素缺陷检测和校正方法（CN200380107363.5）中国专利【掌桥科研】
像素缺陷检测/校正设备，可校正缺陷像素的数目不受记录单元的容量限制，并可以检测/校正延迟缺陷，该设备包括：色差和亮度计算块(1-2)，计算邻近像素和缺陷判断像素的色差绝对值、色差和亮度...
检测小延迟缺陷的方法专利
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